Mass Transport of Silicon During Argon Irradiation Employing a Double-marker System
Publication in refereed journal

香港中文大學研究人員

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著者WILSON Ian Howard, Z.H. Jafri, C. Jeynes, R.P. Webb
期刊名稱Nuclear Instruments and Methods in Physics Research
出版年份1990
期次B48
頁次457
語言英式英語
關鍵詞AMORPHOUS SILICON ; DEFECTS ; ION BOMBARDMENT

上次更新時間 2018-24-01 於 17:37